Ansys基于
一流的3D高频电磁仿真软件

用户可以利用Electronics Desktop中的无缝工作流，其中包括先进的电磁场求解器，并将它们动态链接到电源电路模拟器，以预测电气设备的EMI/EMC性能。这些集成的工作流程避免了重复的设计迭代和成本高昂的经常性EMC认证测试。多个电磁解决方案旨在解决各种电磁问题，以及Electronics Desktop中的电路模拟器，帮助工程师评估他们的电气设备的整体性能，并创建无干扰的设计。这些不同的问题包括辐射和传导辐射、磁化率、串扰、射频密度、射频共存、同向、静电放电、电快速瞬变(EFT)、突发、雷击效应、高强度场(HIRF)、辐射危害(RADHAZ)、电磁环境效应(EEE)、电磁脉冲(EMP)的屏蔽效果和其他EMC应用。

EMIT强大的分析引擎可以计算所有重要的射频交互，包括非线性系统组件效应。在测试环境中诊断复杂环境中的RFI是出了名的困难和昂贵，但是使用EMIT的动态链接结果视图，任何干扰的根本原因的识别都可以通过图形信号回溯和诊断摘要迅速完成，这些诊断摘要显示了干扰信号到达每个接收器的确切来源和路径。一旦发现干扰的原因，EMIT就可以快速评估各种RFI缓解措施，以获得最佳解决方案。新的HFSS/EMIT数据链允许直接从HFSS中安装的天线的物理三维模型在EMIT中创建RFI分析模型。这为射频环境提供了一个无缝的端到端工作流，从大型平台的共干扰到电子设备中的接收机衰减。

候选阵列设计可以在任意波束扫描条件下检测所有元件的输入阻抗。相控阵天线可以根据单元匹配(被动或驱动)远场和近场模式行为在任何感兴趣的扫描条件下优化单元、子阵或完整阵列的性能。无限阵列建模涉及一个或多个天线单元放置在一个单元内。细胞在周围的壁上包含周期性的边界条件，以镜像场，创造无限数量的元素。可以计算元件扫描阻抗和嵌入元件辐射模式，包括所有相互耦合效应。该方法对预测在特定阵列波束导向条件下可能发生的阵列盲扫描角特别有用。有限阵列仿真技术利用单元单元的区域分解来获得大型有限阵列的快速解。该技术可以进行完整的阵列分析，以预测所有的互耦、扫描阻抗、单元图、阵列图和阵列边缘效应。

它包括EMIT，一种独特的多保真度方法，用于预测具有多干扰源的复杂射频环境中的射频系统性能。EMIT还提供了快速识别RFI问题根源并在设计周期早期缓解问题所需的诊断工具。

HFSS与SI电路可以处理复杂的现代互连设计，从模具到模具的集成电路，封装，连接器和pcb。通过利用HFSS先进的电磁场模拟能力动态连接强大的电路和系统模拟，工程师可以了解高速电子产品的性能，而不是在硬件上建立原型。